Курс лекций для магистров

 

«Зондовая микроскопия:

методы, теория, приложения»

 

36 часов, первая лекция в сентябре 2016

 

Курс предназначен для студентов факультета наук о материалах. В курсе рассмотрены основные методы современной зондовой микроскопии, физические принципы, лежащие в основе их работы, а также освещен широкой круг приложений зондовой микроскопии к актуальным задачам физической химии поверхностей, физики наноструктур, полимеров и биологии.

В первой части курса рассматриваются проблемы визуализации поверхностей и картографирования их свойств методами атомно-силовой микроскопии. Второй раздел посвящен изучению электронных свойств структур методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. В третьей части разбираются вопросы, относящиеся к применению зондовой микроскопии для исследования поверхности твердых тел, наноматериалов, полимеров, биологических объектов, нанолитографии, манипуляции атомами на поверхности и электронами в наноструктурах.

Лекторы

·     к.х.н., научный сотрудник Синицына Ольга Валентиновна, лаборатория физической химии полимеров ИНЭОС РАН; кафедра высокомолекулярных соединений химического факультета МГУ;

·     к.ф.-м.н., научный сотрудник Мешков Георгий Борисович, кафедра физики полимеров и кристаллов физического факультета МГУ;

·     к.ф.-м.н., старший научный сотрудник Гиндикин Яков Владимирович, лаборатория теоретических проблем микроэлектроники ФИРЭ РАН.

Дополнительная информация:

E-mail: sinitsyna@gmail.com

 

Программа

Лекция 1. История зондовой микроскопии и яркие примеры ее применения

Лекция 2. Инструментарий зондовой микроскопии

Видео к лекции 2 (11 мб).

Задание 1. От 27 сентября 2016 г.

Лекция 3. Атомно-силовая микроскопия

Лекция 4. Обработка изображений

Видео к лекции 4 (100 мб).

Задание 2. Файлы для обработки

Лекция 5. Динамические режимы атомно-силовой микроскопии (часть 1)

Задание 3. К лекции 5

Лекция 6. Динамические режимы атомно-силовой микроскопии (часть 2)

Задание 4. К лекции 6

Лекция 7. Силовая спектроскопия

Задание 5. К лекции 7

Лекция 8. Электросиловая и сканирующая резистивная микроскопия

Задание 6. К лекции 8

Лекция 9. Кельвиновская микроскопия. Сканирующая туннельная микроскопия

Лекция 10. Сканирующая туннельная спектроскопия

Лекция 11. Сканирующая тепловая и термоэлектрическая микроскопия. Кантилеверные сенсоры

Лекция 12. Манипуляция нанообъектами. Зондовая литография.

Лекция 13. Зачет 27 декабря 2016 года с 10.00 и до победного.