Проанализированы два основных аппаратных эффекта АСМ: уширения профиля и занижения высот АСМ-изображений объектов. Разработаны количественные методики учета этих артефактов, применение которых продемонстрировано на примере выбранных модельных систем.

Программа и рефераты студенческих докладов Школы по химии и физике полимеров. Тверь, декабрь 1998. c. 9